开尔文探针可以精确测量不同半导体和导电材料的功函数,具有较高的精度和准确性。
描述
许多材料的特性是由其表面决定的。最重要的表面性质之一是功函数。
开尔文探针可以精确测量不同半导体和导电材料的功函数,具有较高的精度和准确性。
非接触测量涉及振荡电容,其中一个电极为试样,另一个电极为金栅极振荡参比电极。因此,测量值参考金的功函数(5.1 eV)。测量
分辨率可达0.1 meV, 集成时间足够长。开尔文探针可用于各种类型的表面研究,包括:腐蚀,吸附/解吸,表面充电,催化活性等。
为方便使用,探头配有激光笔和数码显微镜。电动垂直定位系统允许在与标本表面相同距离的参考电极的重现(精度为10 um)。X-Y
定位可以作为一个选项安装。该系统还配有宽带光导,可与数控单色仪和高压氙弧灯联合使用。波长范围从300到1000 nm可用于连
续或脉冲样品照明。
该配置允许测量表面的工作功能和电荷,表面光电压光谱和其他光物理技术,光电压分辨率优于5 mV(当应用较长的集成时间时为
0.1mV)。整个系统采用接地法拉第笼,以减少电噪声和杂散光的影响。这种表面光电压谱仪是研究光催化剂、有机和无机半导体、
太阳能电池和其他光活性材料和器件的必要工具。
借助该开尔文探针/表面光电压光谱仪,实时监测半导体的光腐蚀、光解吸和光催化反应也成为可能。
设计
该装置由安装在固定支架上的摆动金探头、z轴电动工作台、电子控制单元和法拉第笼组成。
样品放置在手动或电动xy台上,移动范围为任意方向1.5 cm。
探头被连接到一个z级,可以把它放在离样品需要的距离上。
一个红色的激光指示器显示在测量过程中探针会振荡的地方。
在系统被法拉第笼覆盖时,USB显微镜和白色LED这时可以起到 很好的作用。
光通过液体波导或光纤传输到样品中,因此消除了光源可能产生的电磁干扰。
在闲置运行或存储期间,脆弱的金探针归到一个受保护的空间,以防止意外损坏。
该系统还配有自动样品高度传感器。
探头尖端是由我司完全设计和制造的组件。它提供了:
即使在样品上方0.5 mm的距离也可以有很大的信号,因此样品表面是否粗糙或抛光并不重要。
可以让光线通过的透明度。通过这种方法,样品可以被垂直的光束照亮。
尖端振荡是由电磁铁产生的。
整个探测器都覆盖着法拉第笼,使其不受外界环境的影响。
规格
由于仪器的不断发展,以下参数可能会有所改变 | |
电压范围 | -5 V .. 5 V |
电压测量标准分辨率 | 0.15 mV |
测量技术 | 双通道锁相增强 |
样品架 | X-Y位移平台, 手动(默认)或电动 |
X-Y轴冲程 | 15 mm x 15 mm |
提示类型 | 网格, 直径2.5 mm |
Z定位 | Z级电动 |
相对于样本的定位 | 挡光板 |
Z定位分辨率 | 10 µm |
波导管的光谱范围 | 200 nm .. 2000 nm (取决于波导) |
液体波导的选择(Lumatec) | |
辅助传感器 | 湿度和温度 |
内部法拉第笼照明 | 白色 LED |
X-Y定位辅助设备 | 激光放样仪 |
电脑连接 | USB 2.0 |
尺寸 | 40 x 40 x 45 cm |
重量 | 10 kg |
典型结果 | |
安酶样品的表面光电压谱。光电压的测量是脉冲照明与金栅参考电极表面电位的变化。 由于测量是在环境空气中进行的,仪器记录空气湿度和温度。这两个参数可能会影响样品的功函数。 | |
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