语言选择: 中文版 ∷  英文版

薄膜电阻及厚度测试仪

  • 薄膜电阻及厚度测试仪
  • 薄膜电阻及厚度测试仪
  • 薄膜电阻及厚度测试仪
薄膜电阻及厚度测试仪 薄膜电阻及厚度测试仪 薄膜电阻及厚度测试仪

薄膜电阻及厚度测试仪

薄膜电阻及厚度测试仪
薄膜电阻及厚度测试仪采用涡流检测技术,可按照需求配置单个或多个针对不同样品的高敏感探头进行测量,并通过显示模块输出。检测最终输出结果可显示为薄膜电阻(Ohms/sq),薄膜电导(Mhos/sq),厚度(单位:um)等。

涡流技术
涡流检测仪的基本要素是感应探头。通过交流电流产生一个磁场,当磁场与导电材料接触时,则会在该材料中感应到涡流。测试材料的特性可产生一系列独特结果,可用来测量材料的薄膜电阻。 评估对象仅限与材料接触的磁场。此磁场相对较弱,不会产生热能,因此不会破坏材料。涡流技术相比接触式测量法(例如四探针测试法)有着诸多优势,与此同时:
不破坏材料
读取绝缘层内的导电层
采样频率高达数万。

典型用途
防静电/导电薄膜
天线
汽车
电池
装饰薄膜/纸张
显示器
花线电路和柔性电路板
电镀
玻璃窗
金属化电容用箔
金属化标签
微波感应器
包装
雷达吸波材料
反射和反光材料
半导体
太阳能
透明导电膜